An emotion-based model of risk perception and stigma susceptibility: Cognitive appraisals of emotion, affective reactivity, worldviews, and risk perceptions in the generation of technological stigma

Detalles Bibliográficos

Autor principal:	Peters, Ellen M. (Autor)
Otros Autores:	Mertz, C.K. ; Burraston, Burt
Tipo de documento:	Electrónico Artículo
Lenguaje:	Inglés
Publicado:	2004
En:	Risk analysis Año: 2004, Volumen: 24, Número: 5, Páginas: 1349-1367
Acceso en línea:	Volltext (lizenzpflichtig)
Journals Online & Print:	Gargar...
Verificar disponibilidad:	HBZ Gateway