An emotion-based model of risk perception and stigma susceptibility: Cognitive appraisals of emotion, affective reactivity, worldviews, and risk perceptions in the generation of technological stigma

Bibliographische Detailangaben

1. VerfasserIn:	Peters, Ellen M. (VerfasserIn)
Beteiligte:	Mertz, C.K. ; Burraston, Burt
Medienart:	Elektronisch Aufsatz
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	2004
In:	Risk analysis Jahr: 2004, Band: 24, Heft: 5, Seiten: 1349-1367
Online-Zugang:	Volltext (lizenzpflichtig)
Journals Online & Print:	Lade...
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