The forensic characterization of polyethylene films by elemental analysis using total-refelction x-ray fluorescence (TXRF) spectrometry
Autor principal: | |
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Tipo de documento: | Print Libro |
Lenguaje: | Inglés |
Publicado: |
1999
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En: | Año: 1999 |
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Palabras clave: |
Descripción Física: | XIV, 272 S. |
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