An emotion-based model of risk perception and stigma susceptibility: Cognitive appraisals of emotion, affective reactivity, worldviews, and risk perceptions in the generation of technological stigma

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Bibliographische Detailangaben
1. VerfasserIn: Peters, Ellen M. (VerfasserIn)
Beteiligte: Mertz, C.K. ; Burraston, Burt
Medienart: Elektronisch Aufsatz
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: 2004
In: Risk analysis
Jahr: 2004, Band: 24, Heft: 5, Seiten: 1349-1367
Online-Zugang: Volltext (lizenzpflichtig)
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