Critical issues and global perspectives

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Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Albrecht, James F. (Editor) ; Heyer, Garth den (Editor)
Tipo de documento: Electrónico Libro
Lenguaje:Inglés
Publicado: Cham Springer [2024]-
En:Año: 2024
Verificar disponibilidad: HBZ Gateway
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Parallel Edition:No electrónico
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