Critical issues and global perspectives

Detalles Bibliográficos

Otros Autores:	Albrecht, James F. (Editor) ; Heyer, Garth den (Editor)
Tipo de documento:	Electrónico Libro
Lenguaje:	Inglés
Publicado:	Cham Springer [2024]-
En:	Año: 2024
Verificar disponibilidad:	HBZ Gateway
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Parallel Edition:	No electrónico