The forensic characterization of polyethylene films by elemental analysis using total-refelction x-ray fluorescence (TXRF) spectrometry
| Autor principal: | |
|---|---|
| Tipo de documento: | Print Libro |
| Lenguaje: | Inglés |
| Publicado: |
1999
|
| En: | Año: 1999 |
| Verificar disponibilidad: | HBZ Gateway |
| Servicio de pedido Subito: | Pedir ahora. |
| Palabras clave: |
| Descripción Física: | XIV, 272 S. |
|---|