Measuring developmental changes in exposure to adversity: A Life Chart and rating scale approach

Guardado en:  
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Gest, Scott D. (Autor) ; Reed, Marie-Gabrielle J. (Autor) ; Masten, Ann S. (Autor)
Tipo de documento: Print Artículo
Lenguaje:Inglés
Publicado: 1999
En: Development and psychopathology
Año: 1999, Volumen: 11, Número: 1, Páginas: 171-192
Journals Online & Print:
Gargar...
Disponibilidad en Tübingen:Disponible en Tübingen.
IFK: In: M VI 164
Verificar disponibilidad: HBZ Gateway
Palabras clave:

MARC

LEADER 00000caa a22000002c 4500
001 1639603786
003 DE-627
005 20250610083134.0
007 tu
008 160223s1999 xx ||||| 00| ||eng c
035 |a (DE-627)1639603786 
035 |a (DE-576)455921202 
035 |a (DE-599)BSZ455921202 
040 |a DE-627  |b ger  |c DE-627  |e rakwb 
041 |a eng 
100 1 |a Gest, Scott D.  |4 aut 
245 1 0 |a Measuring developmental changes in exposure to adversity: A Life Chart and rating scale approach  |c Scott D. Gest, Marie-Gabrielle J. Reed, Ann S. Masten 
264 1 |c 1999 
336 |a Text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a ohne Hilfsmittel zu benutzen  |b n  |2 rdamedia 
338 |a Band  |b nc  |2 rdacarrier 
700 1 |a Reed, Marie-Gabrielle J.  |4 aut 
700 1 |a Masten, Ann S.  |4 aut 
773 0 8 |i In  |t Development and psychopathology  |d New York, NY : Cambridge Univ. Press, 1989  |g 11(1999), 1, Seite 171-192  |w (DE-627)170289036  |w (DE-600)1036173-X  |w (DE-576)025179942  |x 0954-5794  |7 nnas 
773 1 8 |g volume:11  |g year:1999  |g number:1  |g pages:171-192 
935 |a mkri 
951 |a AR 
ELC |b 1 
LOK |0 000 xxxxxcx a22 zn 4500 
LOK |0 001 3300393124 
LOK |0 003 DE-627 
LOK |0 004 1639603786 
LOK |0 005 20160223095947 
LOK |0 008 160208||||||||||||||||ger||||||| 
LOK |0 040   |a DE-21-110  |c DE-627  |d DE-21-110 
LOK |0 689   |a s  |a Belastende Lebensereignisse 
LOK |0 689   |a s  |a Entwicklungsverlauf 
LOK |0 689   |a s  |a Kindheit 
LOK |0 852   |a DE-21-110 
LOK |0 852 1  |c In: M VI 164  |m p  |9 00 
LOK |0 935   |a k110 
LOK |0 938   |k p 
ORI |a WA-MARC-krimdoka001.raw 
SIG |a IFK: In: M VI 164