National Bureau of Standards technical note

Saved in:  
Bibliographic Details
Following Title:NIST technical note
Corporate Author: USA, National Bureau of Standards (Author)
Contributors: USA National Bureau of Standards
Format: Print Series/Journal
Language:Undetermined language
Published: Washington, DC US Gov.Print.Off. 1959-1988
In:Year: 1959
Journals Online & Print:
Drawer...
Check availability: HBZ Gateway
Subito Delivery Service: Order now.
Volumes / Articles:Show volumes/articles.
Keywords:

MARC

LEADER 00000cas a2200000 4500
001 129585467
003 DE-627
005 20230406192541.0
007 tu
008 931114d19591988xxuz| m|b 0 |0und c
016 7 |a 011409959  |2 DE-101 
016 7 |a 235682-X  |2 DE-600 
022 |a 0083-1913 
024 8 |a C 13.46:  |q Amtliche Druckschriftennummer 
030 |a NBTNA 
035 |a (DE-627)129585467 
035 |a (DE-576)010910662 
035 |a (DE-599)ZDB235682-X 
035 |a (OCoLC)1367303656 
040 |a DE-627  |b ger  |c DE-627  |e rakwb 
044 |c XD-US 
082 0 4 |a 600  |q DE-600 
110 2 |a USA  |b National Bureau of Standards  |e VerfasserIn  |0 (DE-588)35618-9  |0 (DE-627)100821928  |0 (DE-576)190340797  |4 aut 
210 1 0 |a Nat. Bur. Stand. Tech. Note 
245 1 0 |a National Bureau of Standards technical note  |c US Department of Commerce 
246 1 |i Nebent.:  |a NBS technical note 
246 1 |i Nebent.:  |a NBS TN 
246 3 3 |a Technical note 
264 3 1 |a Washington, DC  |b US Gov.Print.Off.  |c 1959-1988 
336 |a Text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a Mikroform  |b h  |2 rdamedia 
337 |a ohne Hilfsmittel zu benutzen  |b n  |2 rdamedia 
338 |a Mikrofiche  |b he  |2 rdacarrier 
338 |a Band  |b nc  |2 rdacarrier 
362 0 |a 1959 - 1988,Aug. 
363 0 0 |i 1959 
363 1 0 |i 1988 
515 |a Originalzählung nach Nummern springend 
530 |a Mikrofiche-Ausg.: Washington, DC : US Gov. Print. Off. 
533 |b Washington, DC  |c US Gov.Print.Off.  |n Mikrofiche-Ausg.: Washington, DC : US Gov. Print. Off 
546 |a SuDocs-Class.-no.: C 13.46 
591 |a C! 
655 7 |a Monografische Reihe  |0 (DE-588)4179998-7  |0 (DE-627)104628669  |0 (DE-576)209995106  |2 gnd-content 
785 0 0 |i Forts.  |a National Institute of Standards and Technology (USA)  |t NIST technical note  |d Washington, DC : US Gov.Print.Off., 1988  |w (DE-627)182227553  |w (DE-600)1188250-5  |w (DE-576)330507397 
787 0 8 |i 467 zugl. einige Bd. von  |t Activation analysis  |d Washington, DC : US Gov. Print. Off., 1968  |w (DE-627)188158634  |w (DE-600)1281814-8  |w (DE-576)9188158632 
787 0 8 |i 571=9; 592=10; 598=11; 702=12; 717=13; 727=14; 733=15; 743=16; 754=17; 773=18; 788=19; 806=20 von  |t Methods of measurement for semiconductor materials, process control, and devices  |d Washington, DC : US Gov.Print.Off., 1971  |w (DE-627)16729363X  |w (DE-600)442599-6  |w (DE-576)9167293638  |x 0090-8541 
935 |i sdedup20220729 
951 |a ST 
ELC |b 1 
LOK |0 000 xxxxxcx a22 zn 4500 
LOK |0 001 2082778703 
LOK |0 003 DE-627 
LOK |0 004 129585467 
LOK |0 005 20020612000000 
LOK |0 008 020612||||||||||||||||ger||||||| 
LOK |0 040   |a DE-21  |c DE-627  |d DE-21 
LOK |0 852   |a DE-21 
LOK |0 852 1  |9 00 
LOK |0 935   |a konv 
LOK |0 000 xxxxxcx a22 zn 4500 
LOK |0 001 2082778711 
LOK |0 003 DE-627 
LOK |0 004 129585467 
LOK |0 005 20040924000000 
LOK |0 008 040825||||||||||||||||ger||||||| 
LOK |0 040   |a DE-21-19  |c DE-627  |d DE-21-19 
LOK |0 852   |a DE-21-19 
LOK |0 852 1  |m p  |9 00 
LOK |0 935   |a k019 
LOK |0 938   |k p 
LOK |0 000 xxxxxcx a22 zn 4500 
LOK |0 001 2523536005 
LOK |0 003 DE-627 
LOK |0 004 129585467 
LOK |0 005 20061221112553 
LOK |0 008 061221||||||||||||||||ger||||||| 
LOK |0 040   |a DE-21-98  |c DE-627  |d DE-21-98 
LOK |0 852   |a DE-21-98 
LOK |0 852 1  |m p  |9 00 
LOK |0 935   |a k098  |a kneu  |a i098 
LOK |0 938   |k p 
LOK |0 000 xxxxxcx a22 zn 4500 
LOK |0 001 2609143362 
LOK |0 003 DE-627 
LOK |0 004 129585467 
LOK |0 005 20090902104926 
LOK |0 008 090902||||||||||||||||ger||||||| 
LOK |0 040   |a DE-21-28  |c DE-627  |d DE-21-28 
LOK |0 852   |a DE-21-28 
LOK |0 852 1  |m p  |9 00 
LOK |0 935   |a k028  |a i028 
LOK |0 938   |k p 
ORI |a SA-MARC-krimdokb001.raw 
SPR |a 1  |t KRI